三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在機(jī)械、電子、儀表、塑膠等行業(yè)廣泛使用。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)是測(cè)量和獲得尺寸數(shù)據(jù)的最有效的方法之一，因?yàn)樗梢源娑喾N表面測(cè)量工具及昂貴的組合量規(guī)，并把復(fù)雜的測(cè)量任務(wù)所需時(shí)間從小時(shí)減到分鐘，這是其它儀器而達(dá)不到的效果。三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的功能是快速準(zhǔn)確地評(píng)價(jià)尺寸數(shù)據(jù)，為操作者提供關(guān)于生產(chǎn)過程狀況的有用信息，這與所有的手動(dòng)測(cè)量設(shè)備有很大的區(qū)別。將被測(cè)物體置于三坐標(biāo)測(cè)量空間，可獲得被測(cè)物體上各測(cè)點(diǎn)的坐標(biāo)位置，根據(jù)這些點(diǎn)的空間坐標(biāo)值，經(jīng)計(jì)算求出被測(cè)物體的幾何尺寸、形狀和位置。

三座標(biāo)測(cè)量機(jī)的組成部分有哪些?

1、主機(jī)機(jī)械系統(tǒng)(X、Y、Z三軸或其它);

2、 測(cè)頭系統(tǒng);

3、 電氣控制硬件系統(tǒng);

4、 數(shù)據(jù)處理軟件系統(tǒng)(測(cè)量軟件);

三座標(biāo)測(cè)量機(jī)的使用方法是什么?

三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x簡(jiǎn)稱CMM，自六十年代中期第一臺(tái)三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x問世以來，隨著計(jì)算機(jī)技術(shù)的進(jìn)步以及電子控制系統(tǒng)、檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展，為測(cè)量機(jī)向高精度、高速度方向發(fā)展提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。

CMM按測(cè)量方式可分為接觸測(cè)量和非接觸測(cè)量以及接觸和非接觸并用式測(cè)量，接觸測(cè)量常于測(cè)量機(jī)械加工產(chǎn)品以及壓制成型品、金屬膜等。本文以接觸式測(cè)量機(jī)為例來說明幾種掃描物體表面，以獲取數(shù)據(jù)點(diǎn)的幾種方法，數(shù)據(jù)點(diǎn)結(jié)果可用于加工數(shù)據(jù)分析，也可為逆向工程技術(shù)提供原始信息。掃描指借助測(cè)量機(jī)應(yīng)用軟件在被測(cè)物體表面特定區(qū)域內(nèi)進(jìn)行數(shù)據(jù)點(diǎn)采集。此區(qū)域可以是一條線、一個(gè)面片、零件的一個(gè)截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類型與測(cè)量模式、測(cè)頭類型及是否有CAD文件等有關(guān)，狀態(tài)按紐(手動(dòng)/DCC)決定了屏幕上可選用的“掃描”(SCAN)選項(xiàng)。若用DCC方式測(cè)量，又具有CAD文件，那么掃描方式有“開線”(OPEN LINEAR)、“閉線”(CLOSED LINEAR)、“面片”(PATCH)、“截面”(SECTION)及“周線”(PERIMETER)掃描。若用DCC方式測(cè)量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 “開線”(OPEN LINEAR)、“閉線”(CLOSED LINEAR)和“面片”(PATCH)掃描方式。若用手動(dòng)測(cè)量模式，那么只能用基本的“手動(dòng)觸發(fā)掃描”(MANUL TTP SCAN)方式。若在手動(dòng)測(cè)量方式，測(cè)頭為剛性測(cè)頭，那么可用選項(xiàng)為“固定間隔”(FIXED DELTA)、“變化間隔”(VARIABLE DELTA)、“時(shí)間間隔”(TIME DELTA)和“主體軸向掃描”(BODY AXIS SCAN)方式。